新型奈米微粒採樣器現場應用探討(二)_101白H322 價格比較,價格查詢,價格歷史信息

奈米技術正在各種領域中快速的發展，其廣泛應用使得含有奈米物質的消費產品大幅增加。然而，在我們享受新科技所帶來的潛在利益同時，也應該秉持著預警原則、謹慎的評估其潛在的安全與衛生風險，特別是身處第一線從事奈米材料或產品製造的勞工。有鑑於此，勞工安全衛生研究所近年積極投入奈米物質危害、控制與管理之相關研究，並公佈「奈米技術實驗室奈米物質暴露控制手冊」提供我國奈米事業單位擬訂奈米物質暴露與控制策略之參考。 計畫乃延續並立基於前一年度(100年)的研究成果，首先檢討奈米手冊之宣導與推廣、奈米作業場所環境暴露與個人暴露評估技術等策略，而依據檢討結果，持續針對事業單位進行手冊之宣導與推廣，並協助其使用現有奈米微粒偵測儀器進行奈米微粒暴露評估。計畫也改善所引進或發展之個人奈米微粒暴露評估技術或設備，並試行於奈米作業環境中。 奈米手冊宣導與試行結果顯示，目前執行的主要障礙可歸納有三：一為奈米作業場所安全衛生人員之危害認知能力不足，二為現場安衛人員對專業或一般奈米健康危害及暴露評估內容無法充分瞭解造成其在填寫評估表格上之困難；三為暴露評估技術與設備缺乏造成其他暴露評估在執行上之困難。這些障礙可能導致自評表填寫不當或錯誤，或無法確切了解是否有奈米物質逸散問題，及評估其嚴重性。有關自評表填寫困難，建議可以透過本計畫編撰之「?米技術實驗室?米物質??控制手冊之執行表格填寫說明」以協助之，另亦可藉本計畫所舉辦教育訓練活動之相關教材，以補充其奈米危害之相關知識，提升其執行奈米危害防止之工作之相關能力。 由於直接進行暴露評估存在其在技術與設備上之實際執行困難，建議可以參考美國國家實驗中心之成功案例，應用化學品分級管理(control banding)之策略於奈米作業安全衛生上，先篩選出有逸散並需實施暴露評估之場所，以大幅降低對量化暴露評估之倚賴，進而提升奈米手冊試行之可行性。 有鑑於新開發之個人奈米微粒採樣器(PENS, personal nanoparticle sampler)在使用時常受限於人員之佩戴意願，而SMPS掃描式電動式粒徑分析儀(SMPS, scanning mobility particle size)又有體積龐大及昂貴而奈米微粒表面積監測器（NSAM, Nanoparticle Surface Area Monitor）又無法推估頭區表面積濃度及三區個數濃度等實際上問題，研究以修正型氣膠電荷偵測器(MEAD, modified electrical aerosol detector)、PENS、SMPS及NSAM於不同場所之測定結果相比較，發現可直接利用MEAD於奈米作業場所，評估其於呼吸道三區域之個數、表面積及質量濃度，其亦同時具備重量輕及價格較低之優點。研究建議奈米物質之量測可區為三階段以減少安全衛生人員之工作負荷及實施執行上之困難，其中第一階段可以凝結微粒計數器(CPC, condensation particle counter)或光學微粒計數器(OPC, optical particle counters)做逸散與否之鑑定，如需要則在第二階段再以SMPS及MEAD做逸散奈米物質之鑑定，並於第三階段直接僅以MEAD做長期量測，以建立勞工長期暴露資料庫。 研究成果可提升奈米技術作業場所之安全與衛生自主管理能力，研究中所評估之奈米技術作業場所奈米物質之控制狀況適當，逸散濃度不高，可知研究配合之奈米產業事業單位已採取適當措施降低作業場所之奈米微粒暴露風險。